【SID4-eSWIR簡介】
隨著光波波前探測技術(shù)的發(fā)展，各種波前傳感器應(yīng)運(yùn)而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據(jù)幾何光學(xué)原理，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標(biāo)準(zhǔn)鏡;它們結(jié)構(gòu)簡單，抗干擾能力強(qiáng)，條紋穩(wěn)定。SID4-eSWIR波前傳感器將Phasics的四波剪切技術(shù)與T2SL探測器結(jié)合在一起，提供覆蓋1.0至2.35 μm擴(kuò)展短波紅外波段的高分辨率波前傳感器。 SID4-eSWIR是一種創(chuàng)新的解決方案，可用于檢測空間光通信、測試儀表、軍用夜視系統(tǒng)或監(jiān)控設(shè)備中使用的短波紅外光學(xué)系統(tǒng)。
【關(guān)于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術(shù)的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)與獨(dú)特的波前測量技術(shù)為客戶提供全面的高性能波前傳感器。
一、 SID4-eSWIR 波前傳感器主要特點(diǎn)
1.0至2.35 μm擴(kuò)展波段全覆蓋
80 x 64高相位分辨率
瞬時(shí)相位測量，對振動(dòng)不敏感
可接受非準(zhǔn)直光入射，光路搭建簡易快捷
二、SID4-eSWIR 波前傳感器產(chǎn)品功能
波前像差測量
基于四波剪切技術(shù)，Phasics 的波前傳感器同時(shí)提供具有無與倫比的高分辨率的相位和強(qiáng)度測量。 波前傳感器與其光束分析軟件相結(jié)合，可提供完整的激光診斷：波前像差、強(qiáng)度分布、激光光束質(zhì)量參數(shù)（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學(xué)裝置的任何一點(diǎn)，無論光束是準(zhǔn)直的還是發(fā)散的。SID4-NIR是一款高性價(jià)比的高分辨率波前傳感器，專門用于測量和對準(zhǔn)1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。 |  |
三、SID4--eSWIR 波前傳感器應(yīng)用領(lǐng)域
激光 |自適應(yīng)光學(xué)及等離子體檢測 |光學(xué)計(jì)量及光學(xué)系統(tǒng)計(jì)量
四、SID4-eSWIR 波前傳感器主要規(guī)格
| 波長范圍 | 1 - 2.35 μm |
| 靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 |
| 空間分辨率 | 120 μm |
| 取樣分辨率 | 80 x 64 |
| 相位分辨率 | < 6 nm RMS |
| 絕對精度 | < 40 nm RMS |
| 實(shí)時(shí)處理速度 | 10 fps (全分辨率下)* |
| 接口種類 | USB 2.0 |
五、更多參數(shù)選型
SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器 / 波前分析儀由上海昊量光電設(shè)備有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器 / 波前分析儀 報(bào)價(jià)、型號、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。
